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蔡司显微镜半导体失效分析方案亮相半导体大会

分类:公司新闻 发布时间:2023-05-16 17542次浏览

  由重庆市经济和信息化委员会、中国电子学会、中国汽车工业协会支持,重庆市电子学...

  由重庆市经济和信息化委员会、中国电子学会、中国汽车工业协会支持,重庆市电子学会、重庆市半导体行业协会、四川省电子学会、重庆市电源学会、重庆市电子电路制造行业协会联合主办的第五届未来半导体产业发展大会将于2023年5月10日在重庆国际博览中心举行。

中山中山蔡司显微镜

  推荐嘉宾——黄承梁

  卡尔中山蔡司(上海)管理有限公司显微镜部门业务拓展经理,负责中山蔡司显微镜在半导体、显示、电子等行业的业务开发拓展,为客户提供创新解决方案。在美国加州大学尔湾分校(UC Irvine)毕业后,主要从事半导体电性失效分析、物性失效分析和计量学等相关工作,拥有丰富的半导体先进制程的失效分析经验和电镜、FIB、纳米探针系统应用开发及客户支持经验。

  演讲提纲

  蔡司显微镜的多尺度显微分析解决方案,帮助功率和化合物半导体、半导体材料、MEMS器件等工厂实现高效率的失效分析和良率提升。

中山中山蔡司显微镜半导体失效分析

  第五届未来半导体产业发展大会

  立足云、贵、川、渝、陕等中西部地区,辐射全球产业链,聚焦半导体行业关键技术热点疑难,特邀国内外知名半导体企业、科研院校及媒体界专家及代表,聚焦“IC设计、先进封测技术、芯片、半导体创新材料、半导体投资”等热点难点开展多场主题论坛,助推产业链政产学研信息互通、资源共享、优势互补,提升产业创新能力和发展质量。


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